论文成果
Reliability estimation of thin film platinum resistance MEMS thermal mass flowmeter by step-stress accelerated life testing
  • 所属单位:
    光学高等研究中心
  • 发表刊物:
    MICROELECTRONICS RELIABILITY
  • 第一作者:
    康乔乔
  • 论文编号:
    A098C9B322E44912A81431198F6A54DF
  • 卷号:
    147
  • 字数:
    4200
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2023-08-01

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