所属单位：光学高等研究中心

论文名称：Highly integrated multiplexed microscopy system for integrated circuit failure analysis

发表刊物：OPTICS LETTERS

第一作者：李昊天

论文编号：DC407ACF089E4FC6BEFB00692BC19DC0

卷号：50

期号：9

字数：4

是否译文：否

发表时间：2025-04-21