一种用于有源阵列天线幅相测试的可调探头阵列
点击次数:
所属单位:信息科学与工程学院
专利类型:发明
申请号:202010847551.7
发明人数:2
是否职务专利:否
公开日期:2021-08-27
授权日期:2021-08-27
公开日期:2021-08-27
授权日期:2021-08-27
一种用于有源阵列天线幅相测试的可调探头阵列
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所属单位:信息科学与工程学院
专利类型:发明
申请号:202010847551.7
发明人数:2
是否职务专利:否
公开日期:2021-08-27
授权日期:2021-08-27
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授权日期:2021-08-27