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专利
用于检测痕量铜离子的电化学发光传感器及其检测方法
发布时间：2026-01-27
  • 发明设计人：
    高文跃,杨鸿业
  • 申请号：
    CN202411781016.0
  • 是否职务专利：
    否
  • 申请日期：
    2024-12-05
  • 公开日期：
    2025-03-18
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