专利
用于检测痕量铜离子的电化学发光传感器及其检测方法
发布时间：2026-01-27
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发明设计人：
高文跃,杨鸿业
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专利状态：
授权专利
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申请号：
202411781016.0
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授权号：
ZL202411781016.0
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是否职务专利：
是
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申请日期：
2024-12-05
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公开日期：
2025-03-18
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