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所属单位：电气工程学院

论文名称：Quantum Mechanism of Insulation Degradation Induced by Charge Relaxation in Silicone Gel Under the Ultrafast Pulsed Electric Field

发表刊物：The Proceedings of 2023 4th International Symposium on Insulation and Discharge Computation for Power Equipment (IDCOMPU2023).

第一作者：高腾

论文编号：03FEADC3E259407FB10E96AE5BEF2179

字数：3

是否译文：否

发表时间：2023-05

发布时间：2024-03-26