何东欣
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专利名称:一种电枢表面磨损评估方法及系统
所属单位:电气工程学院
专利类型:发明
申请号:202411918164.2
发明人数:9
是否职务专利:否
申请日期:2024-12-25
公开日期:2025-04-25
授权日期:2025-04-25
发布时间:2025-09-29
下一条:一种空间电荷测试用耦合电路及空间电荷测试系统