论文成果
Three-Dimensional Nondestructive Characterization of Extrinsic Frank-Type Stacking Faults in 4H-SiC Crystals
  • 所属单位:
    光学高等研究中心
  • 发表刊物:
    CRYSTAL GROWTH & DESIGN
  • 论文编号:
    1869668689585999874
  • 字数:
    8
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2024-12-10

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