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Title of Award : 以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
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Title:以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
Institution:晶体材料研究所
Type of Patent:发明
Application Number:201310479860.3
Number of Inventors:8
Service Invention or Not:No
Application Date:2013-10-14
Publication Date:2015-08-05
Authorization Date:2013-10-14
Release Time:2018-12-06