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刘宏
教授
所属院部:
晶体材料研究院
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论文成果
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Effects of carbon pre-germanidation implant into Ge on the thermal stability of NiGe films
所属单位:
晶体材料研究所
发表刊物:
Microelectronic Engineering
第一作者:
刘宏
论文类型:
应用研究
论文编号:
lw-173047
是否译文:
否
发表时间:
2015-01-09
上一条:
Surface Charge Regulation of Osteogenic Differentiation of Mesenchymal Stem Cell on Polarized Ferroelectric Crystal Substrate
下一条:
Optimization of a two-step Ni(5% Pt) germanosilicidation process and the redistribution of Pt in Ni(Pt)Si1-xGex germanosilicide
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