刘宏
教授
所属院部： 晶体材料研究院
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以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
发布时间：2019-04-15
  • 专利名称：
    以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
  • 所属单位：
    晶体材料研究院（晶体材料全国重点实验室）
  • 专利类型：
    发明
  • 申请号：
    201310479860.3
  • 发明人数：
    2
  • 是否职务专利：
    否
  • 申请日期：
    2013-10-14
  • 公开日期：
    2015-08-05
  • 授权日期：
    2015-08-05
  • 发布时间：
    2019-04-15
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