Release Time:2019-04-15 |
Hits:
Shiming Liu
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Gender:Male
Education Level:Postgraduate (Postdoctoral)
Alma Mater:华中科技大学
Patents
一种利用磁光隔离器探测磁场强度的测量系统与方法
Institution:电气工程学院
Type of Patent:发明
Application Number:201610856075.9
Number of Inventors:1
Service Invention or Not:No
Application Date:2016-09-27