所属单位：信息科学与工程学院

论文名称：The damage analysis of Nd:YVO4 crystal implanted by He + ions at low energy

发表刊物：2012 International Symposium on Photonics and Optoelectronics, SOPO 2012

关键字：Annealing;Atomic force microscopy;Crystals;Optoelectronic devices;Photoluminescence;Photonics;Rutherford backscattering spectroscopy

第一作者：Ma, Yujie

论文编号：1395300583568576514

字数：7000

是否译文：否

发表时间：2012-01

发布时间：2022-12-22