专利
基于光干涉原理的材料光致形变系数测量方法及测量系统
  • 备注:
    吕英波,吴佳霖,董亮,赵依洋,孙浩然,刘汇文,刘董,武中臣,丛伟艳
  • 专利类型:
    发明
  • 专利状态:
    待批专利
  • 是否职务专利:
  • 申请日期:
    2024-07-29

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