论文成果

返回中文主页

Characterization of single-crystalline In2O3 films deposited on Y-stabilized ZrO2 (1 0 0) substrates by MOCVD

发布时间:2019-04-14
点击次数:
所属单位:
物理学院
发表刊物:
Applied surface science
第一作者:
马瑾
论文类型:
基础研究
论文编号:
lw-93413
卷号:
257
期号:
2
页面范围:
518
是否译文:
发表时间:
2010-08-16