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Porosity-induced weakening of piezoresponse in GaN layers by means of piezoelectric force microscopy

发布时间:2019-06-07
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
Materials letters
全部作者:
刘建强,马瑾,肖洪地
第一作者:
崔积适
论文类型:
基础研究
论文编号:
98789644171647DCAD42B5B758301DF7
卷号:
208
页面范围:
31
是否译文:
发表时间:
2017-12-01