- Simultaneous measurement of optical inhomogeneity and thickness variation by using dual-wavelength phase-shifting photorefractive holographic interferometry
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- 所属单位：信息科学与工程学院
- 发表刊物：Optics & Laser Technology
- 全部作者：孟祥锋,杨修伦,王青圃
- 第一作者：王玉荣
- 论文类型：基础研究
- 论文编号：lw-163364
- 卷号：56
- 页面范围：241
- 是否译文：否
- 发表时间：2014-02-01
