- Structural and electrical properties of K0.5Bi0.5TiO3 thin films for ferroelectric field effect transistor applications
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- 所属单位:晶体材料研究所
- 发表刊物:Journal of Physics D-Applied Physics
- 全部作者:张晓阳,秦晓燕,尉吉勇
- 第一作者:黄柏标
- 论文类型:基础研究
- 论文编号:lw-79563
- 卷号:42
- 期号:4
- 是否译文:否
- 发表时间:2009-01-30