An In Situ Reflectance Spectroscopic Investigation to Monitor Two-Dimensional MoS2 Flakes on a Sapphire Substrate
点击次数：
所属单位：控制科学与工程学院
发表刊物：MATERIALS
第一作者：王译那
论文类型：基础研究
论文编号：56FFB185C45442C39936D798F0417513
卷号：13
期号：24
字数：5
是否译文：否
发表时间：2020-12-01