
孙媛媛
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所属单位:电气工程学院
论文名称:Stability Analysis of the Grid-Tied VSC Considering the Influence of Short Circuit Ratio and X/R
发表刊物:IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
第一作者:尹睿
论文编号:BE5A7F56ADCB4728939209DEE2EC83E0
卷号:69
期号:1
页面范围:129
字数:10
是否译文:否
发表时间:2022-01
发布时间:2022-05-20