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所属单位：电气工程学院

论文名称：Stability Analysis of the Grid tied VSC Considering the Influence of Short Circuit Ratio and X/R

发表刊物：IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs

第一作者：孙媛媛

论文编号：946CF8D86B6247CF893FF96C252F7B8B

期号：1

字数：9

是否译文：否

发表时间：2022-01

发布时间：2022-12-26