On-Chip Generating FPGA Test Configuration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time
发布时间：2025-06-06
点击次数：
- 所属单位：
- 智能创新研究院
- 发表刊物：
- Chinese Journal of Electronics
- 关键字：
- 测试配置，FPGA
- 第一作者：
- 王飞
- 论文编号：
- 558ED808562C47869C1877B28D1DD0BE
- 期号：
- 25（1）
- 页面范围：
- 1
- 字数：
- 8
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2016-01-29