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Performance enhancement of AlGaN/AlN/GaN high electron mobility transistors by thermally evaporated SiO passivation

发布时间:2019-06-12
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
Applied physics letters
全部作者:
王一鸣,冯先进,宋爱民
第一作者:
朱庚昌
论文类型:
基础研究
论文编号:
lw-178680
卷号:
109
页面范围:
113503
是否译文:
发表时间:
2016-09-12