Leveraging balanced logic gates as strong PUFs for securing IoT against malicious attacks
发布时间：2023-12-07
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- 所属单位：
- 集成电路学院
- 发表刊物：
- JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
- 论文编号：
- 85EAFC79D7014C3987D8B774507AC77C
- 期号：
- 6
- 字数：
- 41
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2019-12-04