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Porosity-induced weakening of piezoresponse in GaN layers by means of piezoelectric force microscopy

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
论文名称:
Porosity-induced weakening of piezoresponse in GaN layers by means of piezoelectric force microscopy
发表刊物:
Materials letters
第一作者:
崔积适
全部作者:
肖洪地,刘建强,马瑾
论文编号:
98789644171647DCAD42B5B758301DF7
卷号:
208
页面范围:
31
是否译文:
发表时间:
2017-12
发布时间:
2019-10-24