教师个人主页
登录
首页
返回
English
教师个人主页
登录
首页
返回
English
论文成果
返回中文主页
退火温度对低温生长MgxZn1-xO薄膜光学性质的影响
发布时间:2019-10-26
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
ACTA PHYSICA SINICA
全部作者:
张锡健,王卿璞,马瑾,宗福建,肖洪地,计峰,
第一作者:
张锡健
论文类型:
基础研究
论文编号:
lw-95816
卷号:
55
期号:
1
页面范围:
437
是否译文:
否
发表时间:
2006-01-15
上一条:
Thermal Stability of Strained AlGaN/GaN Heterostructures