研究领域为模拟集成电路设计：SAR/pipelined/delta-sigma ADC, CMOS图像传感器，集成温度传感器和温度管理。在技术创新方面，首次提出了使用图像传感器像素感应温度的方法，解决了之前图像传感器像素内温度感应受面积限制或造成屏幕黑点的问题，并将此方法通过流片，测试验证，发表在2020年的IEEE TCAS II上。同时，提出了一种利用数字误差矫正(Digital Error Correction)提高SAR ADC转换速度 33 %的方法（与传统方法相比），并通过流片测试验证，发表在2020年的IEEE TCAS II上。