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基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法

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Affilication of Author(s):信息科学与工程学院

Patent Applicant:yuandongfeng

Type of Patent:发明

Application Number:201010521936.0

Number of Inventors:1

Service Invention or Not:no

Application Date:2010-10-27

Pre One:一种基于物联网技术的井下通信系统及应用

Next One:一种用于片上系统在线串行数据读写的方法