基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法
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Title:基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法
Institution:信息科学与工程学院
Type of Patent:发明
Application Number:201010521936.0
Number of Inventors:1
Service Invention or Not:No
Application Date:2010-10-27
Release Time:2019-04-15
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Title:基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法
Institution:信息科学与工程学院
Type of Patent:发明
Application Number:201010521936.0
Number of Inventors:1
Service Invention or Not:No
Application Date:2010-10-27
Release Time:2019-04-15