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基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法

发布时间：2019-04-15| 点击次数：

专利名称：基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法

所属单位：信息科学与工程学院

专利类型：发明

申请号：201010521936.0

发明人数：1

是否职务专利：否

申请日期：2010-10-27

发布时间：2019-04-15

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