点击次数：

专利名称：波片相位延迟光谱特性的测量方法及装置

所属单位：信息科学与工程学院

专利类型：发明

申请号：201310138881.9

发明人数：1

是否职务专利：否

申请日期：2013-04-19

公开日期：2015-02-18

授权日期：2015-02-18

发布时间：2019-04-15