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Probing atomic-scale structure of dielectric ceramics with scanning transmission electron microscopy
发布时间：2024-09-15
点击次数：
发表刊物：
Journal of Advanced Dielectrics
卷号：
13
页面范围：
2343001
是否译文：
否
发表时间：
2023-05-01
上一条：
Ultrahigh energy-storage in high-entropy ceramic capacitors with polymorphic relaxor phase
下一条：
Tunable 0D/2D/2D Nanocomposite Based on Green Zn-Doped CuInS2 Quantum Dots and MoS2/rGO as Photoelectrodes for Solar Hydrogen Production.
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