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赵金富
科学研究人员
所属院部：
机械工程学院
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专利
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基于荧光追踪样点的材料表层去除原位测量装置及方法
所属单位：
机械工程学院
专利类型：
发明
申请号：
202210452637.9
发明人数：
5
是否职务专利：
否
申请日期：
2022-04-27
公开日期：
2024-01-12
授权日期：
2024-01-12
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