左致远

教授

Nanoscale Component Diffusion Study of InP/SiC Heterogeneous Bonding Interface for High-Quality Optoelectronic Device Integration

• 所属单位：
  光学高等研究中心
• 发表刊物：
  ACS Applied Nano Materials
• 第一作者：
  康汝燕
• 论文编号：
  1843556244069126146
• 卷号：
  7
• 期号：
  18
• 页面范围：
  21547-21555
• 字数：
  6
• 是否译文：
  否
• 发表时间：
  2024-09-09