论文成果

返回中文主页

Comparative Study of Short-Channel Effects Between Source-Gated Transistors and Standard Thin-Film Transistors

发布时间:2022-05-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
IEEE Transactions on Electron Devices
第一作者:
王震泽
论文编号:
EE891ACF871F4DC799BF2F59A5BD422D
期号:
69
字数:
3000
是否译文:
发表时间:
2022-01-13