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Schottky-barrier thin-film transistors based on HfO2-capped InSe

发布时间:2020-05-19
点击次数:
发表刊物:
Appl. Phys. Lett.
全部作者:
J. Zhang, G. Liang, Y. Shi, Y. Zhang, Z. R. Kudrynskyi, Z. D. Kovalyuk, A. Patane, Q. Xin*, and A. Song*
第一作者:
Y. Wang
卷号:
115
期号:
33502
是否译文:
发表时间:
2019-01-01