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Influence of AlN barrier thickness on AlN/GaN heterostructure optical and transport properties

发布时间:2019-04-14
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS-RAPID COMMUNICATIONS
全部作者:
冀子武,庞智勇,徐现刚
第一作者:
李建飞
论文类型:
基础研究
论文编号:
58217672659C4043A5D3CEFB912E3E26
卷号:
11
期号:
3-
页面范围:
184
是否译文:
发表时间:
2017-03-01