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Influence of Schottky drain contacts on the strained AlGaN barrier layer of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
Chinese Physics B
全部作者:
林兆军
第一作者:
曹芝芳
论文类型:
综合研究
论文编号:
lw-145401
卷号:
22
期号:
4
是否译文:
发表时间:
2012-08-01