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Theoretical model of the polarization Coulomb field scattering in strained AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
全部作者:
林兆军
第一作者:
栾崇彪
论文类型:
综合研究
论文编号:
lw-164536
卷号:
116
期号:
4
字数:
3
是否译文:
发表时间:
2014-09-06