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Bias-dependent electron velocity and short-channel effect in scaling sub-100?nm InAlN/GaN HFETs

发布时间:2024-11-21
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
Applied Physics Letters
第一作者:
王鸣雁
论文编号:
51AD8BC7588A4CD3A8FBDF68C546B47F
期号:
124
字数:
3000
是否译文:
发表时间:
2024-04-08