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Lift-Off Mechanism of GaN Thin Films with Buried Nanocavities Investigated by SEM and TEM

发布时间:2020-03-20
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
Journal of ELECTRONIC MATERIALS
全部作者:
毛宏志,栾彩娜,刘建强,马瑾,肖洪地
第一作者:
杨小坤
论文类型:
应用研究
论文编号:
9600585BF2564969BC16220CA429D8C2
卷号:
48
期号:
5
页面范围:
3036
是否译文:
发表时间:
2019-05-01