栾彩娜

高级实验师

硕士生导师

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Characterization of Rutile SnO2 Epitaxial Films Grown on MgF2 (001) Substrates by MOCVD
  • 所属单位：
    集成电路学院
  • 发表刊物：
    Crystal Research and Technology
  • 第一作者：
    栾彩娜
  • 论文编号：
    0594DF206D0340898C8FFB48CD9E2B87
  • 卷号：
    53
  • 期号：
    10
  • 字数：
    3000
  • 是否译文：
    否
  • 发表时间：
    2018-09-21
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