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Influence of Ni Schottky contact thickness on two-dimensional electron-gas sheet carrier concentration of strained Al0.3Ga0.7N/GaN heterostructures

发布时间:2019-10-22
点击次数:
所属单位:
物理学院
发表刊物:
Journal of Semiconductors
全部作者:
孟令国
第一作者:
林兆军
论文类型:
基础研究
论文编号:
lw-96784
卷号:
31
期号:
8
页面范围:
084007-1
是否译文:
发表时间:
2010-08-30