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Influence of the side-Ohmic contact processing on the polarization Coulomb field scattering in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
物理学院
论文名称:
Influence of the side-Ohmic contact processing on the polarization Coulomb field scattering in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
发表刊物:
APPLIED PHYSICS LETTERS
第一作者:
林兆军
全部作者:
孟令国,林兆军
论文编号:
lw-137957
卷号:
101
页面范围:
113501
是否译文:
发表时间:
2012-09
发布时间:
2019-10-24