A Universal Approach to Determine the Atomic Layer Numbers in Two-Dimensional Materials Using Dark-Field Optical Contrast
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所属单位：集成电路学院
发表刊物：Nano Letters
论文编号：02EEAECCCB3E41D7B5C42C3AFFA5C0BC
卷号：23
期号：19
页面范围：9170
字数：5
是否译文：否
发表时间：2023-07-26
发表时间：2023-07-26