一种优化基于氧化物半导体的CMOS反相器门限电压的方法
发布时间:2019-04-15 点击数:
专利名称:一种优化基于氧化物半导体的CMOS反相器门限电压的方法
所属单位:微电子学院
专利类型:发明
申请号:2018110099435
发明人数:2
是否职务专利:否
申请日期:2018-08-31
专利名称:一种优化基于氧化物半导体的CMOS反相器门限电压的方法
所属单位:微电子学院
专利类型:发明
申请号:2018110099435
发明人数:2
是否职务专利:否
申请日期:2018-08-31