论文成果
Suppressing Interfacial Layer Degradation in Hf0.5Zr0.5O2-based FeFETs Using a Pre-erase Strategy during Program/Erase Cycling
  • 所属单位:
    信息科学与工程学院
  • 第一作者:
    赵国庆
  • 论文编号:
    8381582CD85E4FDCA9638158672E47B3
  • 字数:
    3
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2022-06-11

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