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Depth detection and fabrication of porous silicon without the stress
发布时间：2019-04-13
点击次数：
所属单位：
微电子学院
全部作者：
肖洪地,裴海燕,刘向东,马瑾
第一作者：
曹得重
论文类型：
应用研究
论文编号：
lw-198329
卷号：
362
页面范围：
557
是否译文：
否
发表时间：
2016-02-15
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Inactivation of Microcystis aeruginosa by hydrogen-terminated porous Si wafer: Performance and mechanisms.
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Depth detection and fabrication of porous silicon without the stress
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