一种基于ScAlN介质层的InAlN/GaN MIS-HEMT及其制备方法
点击次数:
所属单位:新一代半导体材料研究院
专利类型:发明
申请号:202210196597.6
发明人数:8
是否职务专利:否
申请日期:2022-03-02
公开日期:2024-05-28
授权日期:2024-05-28
公开日期:2024-05-28
申请日期:2022-03-02
授权日期:2024-05-28
一种基于ScAlN介质层的InAlN/GaN MIS-HEMT及其制备方法
点击次数:
所属单位:新一代半导体材料研究院
专利类型:发明
申请号:202210196597.6
发明人数:8
是否职务专利:否
申请日期:2022-03-02
公开日期:2024-05-28
授权日期:2024-05-28
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申请日期:2022-03-02
授权日期:2024-05-28