Revelation of the dislocations in the C-face of 4H-SiC substrates using a microwave plasma etching treatment

发布时间:2021-05-31|点击次数:

所属单位:晶体材料研究院

论文名称:Revelation of the dislocations in the C-face of 4H-SiC substrates using a microwave plasma etching treatment

发表刊物:CrystEng Comm

第一作者:欧阳俊

论文类型:基础研究

论文编号:C8AAD6E1796B4EB4B2D502DEF34AFBEF

卷号:23

期号:2

页面范围:353

是否译文:否

发表时间:2021-01-14