张雷
所属院部： 晶体材料研究院
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Synchrotron radiation x-ray topography applied to nitride semiconductor crystals
  • 所属单位：
    新一代半导体材料研究院
  • 发表刊物：
    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
  • 第一作者：
    张祁瑞
  • 论文编号：
    1794923048128266242
  • 卷号：
    135
  • 期号：
    18
  • 字数：
    5
  • 是否译文：
    否
  • 发表时间：
    2024-05-14
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