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Thermally Evaporated SiO Serving as Gate Dielectric in Graphene Field-Effect Transistors

发布时间:2019-04-14
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
IEEE Transactions on Electron Devices
全部作者:
张锡健,李玉香,陈秀芳,徐现刚,赵显,宋爱民
第一作者:
杨乐陶
论文类型:
基础研究
论文编号:
C378AC35A5AB4595ADA7AFF720512A91
卷号:
64
期号:
4
页面范围:
1846
是否译文:
发表时间:
2017-04-01